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QUEST首页 - 产品 - 半导体 - AP标准PSL硅片 -
PSL Wafer
在1992年末成立于科罗拉多州,Applied Physics (AP)公司的产品销售分布在欧洲,亚洲,美国,加拿大和美国南部。Applied Physics (AP),是在亚洲,欧洲和美国的领先颗粒污染控制设备的供应商。他们能提供巧妙的解决方安到复杂的颗粒污染问题解决方法。其中包括生成,沉积,取样从和/或检测3纳米到10微米的纳米颗粒。周密的显示功能,特点和接口,加上先进的技术都体现在每一个产品。
原厂链接:
www.AppliedPhysicsUSA.com
产品特点
技术参数
资料下载
AP (PSL 晶片标准):
• 清晰可见的定点位置,剩余的晶圆片表面没有任何沉积。
• 帮助确定是否PSL校准晶片太脏使用于作为参考标准。
• 点沉积迫使所需的所有PSL球体在一个受控的“点”位置上,因此形成很少PSL球体和更高的计算精度的结果。
• Applied Physics使用2300xp1与微分迁移率分析仪(DMA)确保起源于NIST 的PSL尺寸输出和计算是准确的。
• CPC粒子计数器用来控制计数的准确性。
• 在背景下最大限度地减少不必要的被沉积的霾,双峰和三峰
PSL和NIST SRM粒子尺寸标准:100mm,150mm,150mm,200mm&300 mm晶片,基础硅片
1_PSLCalibrationWaferStandards_1Aug12.pdf
PSL Wafer-cn.pdf
沪公网安备 31011502003534号